KSV NIMA- Characterization on Thin Films
Los sistemas KSV NIMA para caracterización de películas delgadas están diseñados para analizar propiedades interfaciales, ópticas y estructurales de monocapas y películas a escala nanométrica. Estas tecnologías permiten estudiar comportamiento molecular, homogeneidad y organización superficial con alta precisión.
Comparativa Técnica – KSV NIMA Characterization of Thin Films
Característica
MicroBAM
Surface Potential Sensor (SPOT)
ISR Flip
Tipo de sistema
Brewster Angle Microscopy (BAM)
Surface Potential Sensing (SPOT)
Interfacial Shear Rheometer (ISR)
Aplicación principal
Visualización de monocapas
Medición de potencial superficial
Medición de viscoelasticidad interfacial
Tipo de análisis
Imagen en tiempo real de películas delgadas
Orientación molecular y dipolos
Reología interfacial aire-líquido y líquido-líquido
Método de medición
Microscopía óptica no invasiva
Capacitor de placa vibrante sin contacto
Deformación por shear con trampa magnética
Resolución / Sensibilidad
Resolución lateral de 12 µm
Sensibilidad ±1 mV
Resolución dinámica de 1×10⁻⁸ N/m
Campo de medición
3600 × 4000 µm
-5 V a +5 V
Frecuencia de 0.01 a 10 Hz
Análisis de homogeneidad
Sí
Indirecto mediante potencial superficial
No
Análisis de viscoelasticidad
No
No
Sí
Interfaces compatibles
Aire-líquido
Aire-líquido
Aire-líquido y líquido-líquido
Ideal para
Homogeneidad y morfología de películas
Estudios de orientación molecular
Estabilidad y comportamiento viscoelástico
Compatibilidad con troughs KSV NIMA
Sí
Sí
Sí
Automatización
Alta
Incluye KSV NIMA MicroBAM
Visualización y control avanzado de nanopartículas
Alta
Software
Software de adquisición de imágenes
KSV NIMA LB Software
KSV NIMA ISR Software + LB Software
Funciones de software
Captura de imágenes y video
Potencial superficial + presión superficial
Reología, análisis, plotting y exportación
Ventaja principal
Observación visual no invasiva
Información electrónica y dipolar
Alta sensibilidad reológica