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Theta wafer

Tensiómetro óptico de alta gama para mediciones totalmente automatizadas del ángulo de contacto en obleas de silicio

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Descripción:

El Theta Wafer es un tensiómetro óptico premium diseñado para mediciones automatizadas de ángulo de contacto y energía superficial en obleas de silicio. Su sistema automatizado permite realizar mapeo completo de superficies con alta precisión y repetibilidad.

Aplicaciones:

  • Semiconductores y microelectrónica

  • Obleas de silicio y recubrimientos avanzados

  • Investigación de superficies

  • Control de calidad en materiales de alta tecnología

Características:

  • Medición automatizada de ángulo de contacto y energía superficial

  • Diseñado para wafers de hasta 12”

  • Sistema automatizado XYZ y rotación integrada

  • Cuatro dispensadores automáticos 

  • Mapeo automático de superficie 

  • Medición de cientos de puntos sin interrupción

  • Ideal para análisis de limpieza y homogeneidad superficial

Software OneAttension: Ejecuta de forma automatizada y tiempo real

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Comparativa Técnica – Attension Theta Series

Característica

Theta Lite

Theta Flow

Theta Flex

Theta Wafer

Theta Topography

Theta High Pressure

Theta Pulsating Drop

Theta Pico

Tipo de sistema

Compacto QC

Premium automatizado

Plataforma modular avanzada

Automatizado para wafers

Análisis de topografía 3D

Alta presión y temperatura

Reología interfacial

Microáreas y fibras

Ángulo de contacto

Sí

Sí

Sí

Sí

Sí

Sí

Sí

Sí

Tensión superficial/interfacial

Sí

Sí

Sí

No

Sí

Sí

Sí

Sí

Rango de medición

0°–180° / 0.01–2000 mN/m

0°–180° / 0.01–2000 mN/m

0°–180° / 0.01–2000 mN/m

0°–180°

0°–180° / 0.01–2000 mN/m

0°–180° / alta presión

Interfacial dinámica

Microgotas <100 µm

Velocidad de captura

Hasta 2247 fps

Hasta 3422 fps

Alta velocidad

Alta velocidad

Hasta 3422 fps

Hasta 3009 fps

Hasta 3009 fps

Alta resolución

Interfacial rheology

No

Sí

Sí

No

No

No

Sí

No

Alta presión / temperatura

No

No

Compatible con módulo HP

No

No

Hasta 400 bar / 200 °C

No

No

Tipo de muestras

Superficies generales

Superficies y líquidos

Investigación avanzada

Obleas de silicio

Superficies rugosas

Fluidos extremos

Emulsiones y espumas

Microcomponentes

Ventaja principal

Fácil y compacto

Automatización premium

Máxima flexibilidad

Mapping automático de wafers

Corrige rugosidad real

Condiciones extremas

Análisis viscoelástico

Medición en microáreas

Ideal para

QC y educación

QC + I+D

Investigación compleja

Microelectrónica

Ciencia de superficies

Oil & Gas / energía

Interfaces complejas

Dispositivos miniaturizados

Aplicaciones típicas

Polímeros, coatings

Materiales avanzados

Nanotecnología y biomateriales

Semiconductores

Superficies rugosas

EOR y fluidos supercríticos

Surfactantes y emulsiones

Fibras y microelectrónica

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